1. Advanced electron microscopy and nanomaterials: selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials )AEM-NANOMAT '09(, Saltillo )Coahuila( Me۱جxico, September 29th-October 2nd, 2009
پدیدآورنده : edited by: Arturo Ponce and Dario Bueno
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Congresses ، Electron microscopy,Congresses ، Nanostructured materials
رده :
TA
418
.
9
.
N35
A3275
2010
2. Electron Microscopy and Multiscale Modeling: Proceedings of The EMMM-2007 International Conference
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه دانشگاه آزاد اسلامی واحد قم (قم)
موضوع : Materials- Microscopy- Congresses,Electron microscopy- Congresses
رده :
TA
.
E426
417
.
23
2007
3. Nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Congresses ، Electron spectroscopy,Congresses ، Electron microscopy,Congresses ، Semiconductors-- Materials,Congresses ، Nanostructure materials
رده :
QC
454
.
E4
.
I58
2000
4. Nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research
پدیدآورنده : Y. Watanabe ... ]et al.[
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع : Congresses ، Electron spectroscopy,Congresses ، Electron microscopy,Materials -- Congresses ، Semiconductors,Congresses ، Nanostructured materials
رده :
QC
3
.
L28
Vol
.
588
5. Recent developments in thin film research: epitaxial growth and nanostructures, electron microscopy, and x-ray diffraction: proceedings of Symposium B on Epitaxial Thin Film Growth and Nanostructures and proceedings of Symposium C on Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Film Structures of the 1997 ICAM/E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 16-20, 1997
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : Congresses ، Thin films,Congresses ، Epitaxy,Congresses ، Nanostructure materials,Congresses ، Electron microscopy,Congresses ، X-rays-- Diffraction
رده :
TA
418
.
9
.
T45
.
S94
1997
6. Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials III: symposium held December 5-6, 1991, Boston, Mass., U.S.A
پدیدآورنده : editors, Ron Anderson, Bryan Tracy, John Bravman
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : Microscopy Congresses ، Materials,Congresses ، Electron microscopy
رده :
TA
417
.
23
.
S632